{"id":384277,"date":"2026-02-19T21:00:00","date_gmt":"2026-02-20T00:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/www.portaltela.com\/noticias\/2026\/02\/19\/explorando-materiais-em-escala-atomica\/"},"modified":"2026-02-19T21:00:00","modified_gmt":"2026-02-20T00:00:00","slug":"explorando-materiais-em-escala-atomica","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.portaltela.com\/noticias\/ciencia\/2026\/02\/19\/explorando-materiais-em-escala-atomica\/","title":{"rendered":"Explorando materiais em escala at\u00f4mica"},"content":{"rendered":"<p>MIT.nano ampliou seu conjunto de ferramentas com a inclus\u00e3o de um novo instrumento de difra\u00e7\u00e3o e imaging por raios X, o Bruker D8 Discover Plus. O equipamento fortalece a an\u00e1lise de materiais em escala nanom\u00e9trica no SEF de XRD, dentro da estrutura Characterization.nano. A aquisi\u00e7\u00e3o visa ampliar a capacidade de estudo de filmes finos, superf\u00edcies e estruturas internas sem danificar as amostras.<\/p>\n<p>O Bruker D8 Discover Plus substitui sistemas antigos, trazendo uma fonte de raios X de cobre microfoco de alta brilhante. O ponto de foco varia de 2 mm a 200 microns, permitindo medir \u00e1reas pequenas com detec\u00e7\u00e3o de larga \u00e1rea. A configura\u00e7\u00e3o facilita an\u00e1lises de regi\u00f5es distintas com alta taxa de fluxos.<\/p>\n<p>O novo sistema integra-se ao SEF de difra\u00e7\u00e3o e imaging por raios X, onde pesquisadores observam materiais em escalas muito pequenas. Al\u00e9m de gerar padr\u00f5es de difra\u00e7\u00e3o, o equipamento produz imagens 3D que ajudam a mapear composi\u00e7\u00e3o e organiza\u00e7\u00e3o interna.<\/p>\n<p>Segundo representantes, a ferramenta amplia desde identifica\u00e7\u00e3o de fases at\u00e9 an\u00e1lises de microestrutura de filmes finos e estudos em altas temperaturas. A equipe de opera\u00e7\u00e3o no Characterization.nano atua na opera\u00e7\u00e3o, treinamento e interpreta\u00e7\u00e3o dos dados obtidos.<\/p>\n<p>A tecnologia de difra\u00e7\u00e3o por raios X revela a estrutura cristalina ao medir interfer\u00eancia do feixe ao atravessar planos at\u00f4micos. Os resultados fornecem informa\u00e7\u00f5es sobre fase cristalina, tamanho de gr\u00e3o, orienta\u00e7\u00e3o e defeitos, \u00fateis em diversas \u00e1reas da engenharia e ci\u00eancia dos materiais.<\/p>\n<p>Entre participantes, pesquisadores destacam a vantagem de medir regi\u00f5es espec\u00edficas com maior resolu\u00e7\u00e3o espacial. A fun\u00e7\u00e3o de difra\u00e7\u00e3o in-plane permite estudar filmes finos com orienta\u00e7\u00e3o de gr\u00e3os n\u00e3o uniforme, \u00fatil para projetos de fabrica\u00e7\u00e3o de semicondutores.<\/p>\n<p>A nova configura\u00e7\u00e3o tamb\u00e9m oferece um conjunto de software robusto para an\u00e1lise de dados. Usu\u00e1rios est\u00e3o sendo treinados para operar o difrat\u00f4metro e interpretar os dados estruturais obtidos.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<ul>\n<li>MIT.nano adicionou ao seu conjunto de ferramentas de caracteriza\u00e7\u00e3o um difrat\u00f4metro de raios X, o Bruker D8 Discover Plus, com alta brilha\u0302ncia e fonte de cobre.<\/li>\n<li>O equipamento permite medir pequenas \u00e1reas de filmes finos e usa detector de grande \u00e1rea para mapeamento detalhado.<\/li>\n<li>Est\u00e1 instalado no SEF (facilidade de difra\u00e7\u00e3o e imagem com raios X) do Characterization.nano, facilitando observar estruturas internas sem danificar o material.<\/li>\n<li>Oferece varredura in-plane XRD e regi\u00f5es do amostra com alta taxa de fluxo e resolu\u00e7\u00e3o espacial fina, com \u00e1reas medidas de 2 mm a 200 micr\u00f4metros.<\/li>\n<li>Inclui pacote de software avan\u00e7ado para an\u00e1lise de dados, com treinamento para operac\u0327\u00e3o do difrat\u00f4metro e interpreta\u00e7\u00e3o dos resultados.<\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"author":15,"featured_media":384282,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"summary":"MIT.nano amplia capacidades de difra\u00e7\u00e3o com Bruker D8 Discover Plus, permitindo an\u00e1lises em escala nanom\u00e9trica de \u00e1reas pequenas e mapeamento 3D de estruturas","footnotes":""},"categories":[296,1],"tags":[85,100,98,189,99],"class_list":["post-384277","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-ciencia","category-noticias","tag-inovacao","tag-noticia","tag-pesquisa","tag-tecnologia","tag-universidades"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/posts\/384277","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/users\/15"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/comments?post=384277"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/posts\/384277\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/media\/384282"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/media?parent=384277"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/categories?post=384277"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.portaltela.com\/api\/wp\/v2\/tags?post=384277"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}