- MIT.nano adicionou ao seu conjunto de ferramentas de caracterização um difratômetro de raios X, o Bruker D8 Discover Plus, com alta brilhância e fonte de cobre.
- O equipamento permite medir pequenas áreas de filmes finos e usa detector de grande área para mapeamento detalhado.
- Está instalado no SEF (facilidade de difração e imagem com raios X) do Characterization.nano, facilitando observar estruturas internas sem danificar o material.
- Oferece varredura in-plane XRD e regiões do amostra com alta taxa de fluxo e resolução espacial fina, com áreas medidas de 2 mm a 200 micrômetros.
- Inclui pacote de software avançado para análise de dados, com treinamento para operação do difratômetro e interpretação dos resultados.
MIT.nano ampliou seu conjunto de ferramentas com a inclusão de um novo instrumento de difração e imaging por raios X, o Bruker D8 Discover Plus. O equipamento fortalece a análise de materiais em escala nanométrica no SEF de XRD, dentro da estrutura Characterization.nano. A aquisição visa ampliar a capacidade de estudo de filmes finos, superfícies e estruturas internas sem danificar as amostras.
O Bruker D8 Discover Plus substitui sistemas antigos, trazendo uma fonte de raios X de cobre microfoco de alta brilhante. O ponto de foco varia de 2 mm a 200 microns, permitindo medir áreas pequenas com detecção de larga área. A configuração facilita análises de regiões distintas com alta taxa de fluxos.
O novo sistema integra-se ao SEF de difração e imaging por raios X, onde pesquisadores observam materiais em escalas muito pequenas. Além de gerar padrões de difração, o equipamento produz imagens 3D que ajudam a mapear composição e organização interna.
Segundo representantes, a ferramenta amplia desde identificação de fases até análises de microestrutura de filmes finos e estudos em altas temperaturas. A equipe de operação no Characterization.nano atua na operação, treinamento e interpretação dos dados obtidos.
A tecnologia de difração por raios X revela a estrutura cristalina ao medir interferência do feixe ao atravessar planos atômicos. Os resultados fornecem informações sobre fase cristalina, tamanho de grão, orientação e defeitos, úteis em diversas áreas da engenharia e ciência dos materiais.
Entre participantes, pesquisadores destacam a vantagem de medir regiões específicas com maior resolução espacial. A função de difração in-plane permite estudar filmes finos com orientação de grãos não uniforme, útil para projetos de fabricação de semicondutores.
A nova configuração também oferece um conjunto de software robusto para análise de dados. Usuários estão sendo treinados para operar o difratômetro e interpretar os dados estruturais obtidos.
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